• 10,1-Zoll-kapazitiver Touchscreen mit Auflösung 1280*800, Linux-System
• Dual-CPU-Architektur, schnellste Testgeschwindigkeit von 0,56 ms (1800 Mal/Sekunde)
• Drei Testmethoden: Spot-Test, Listen-Scan und grafische Scan (optional)
• Vier Parasitenparameter (Ciss, Coss, Crss, Rg) werden gemessen und auf demselben Bildschirm angezeigt.
• Integriertes Design: LCR + Hochspannungsquelle + Kanalwechsel
• Standard-Zwei-Kanal-Test, bei dem zwei Geräte oder Dual-Chip-Geräte gleichzeitig getestet werden können, der Kanal ist maximal Bis zu 6 Kanäle können erweitert werden,Kanalparameter werden separat gespeichert
• Schnelles Aufladen, verkürzt die Aufladzeit des Kondensators und ermöglicht schnelles Testen
• Schnellbetätigungstest
• Automatische Verzögerung
• hoher Bias: VGS: 0 - ±40V, VDS: 0 - 200V/1500V
• Sortierung von 10 Behältern
Kurze Einleitung
Der Halbleiter-C-V-Charakteristik-Analysator der TH510-Serie ist ein von Changzhou Tonghui entwickeltes Analyseinstrument für das Design und die Forschung von Halbleitermaterialien und -komponenten.
Der Halbleiter-C-V-Charakteristik-Analysator der TH510-Serie nutzt innovativ Technologien der neuen Generation wie die Dual-CPU-Architektur, das zugrunde liegende Linux-System, einen 10,1-Zoll-kapazitiven Touchscreen,Chinesische und englische BedienoberflächeEs ist für die schnelle und automatische Integration und Sortierung von Produktionslinien geeignet und kann Laborforschung, -entwicklung und -analyse erfüllen.
Die Konstruktionsfrequenz des Halbleiter-C-V-Charakteristikanalysators der TH510-Serie beträgt 1 kHz-2 MHz, die VGS-Spannung kann ±40V und die VDS-Spannung 200V/1500V erreichen,die ausreicht, um die CV-Karakteristikprüfung und -analyse von Halbleiterkomponenten wie herkömmlichen Dioden zu erfüllen, Trioden, MOS-Röhren und IGBTs. Dank des 10,1-Zoll-kapazitiven Touchscreens mit einer Auflösung von 1280*800,TH510-Serie Halbleiter C-V-Charakteristik-Analysator kann vier Parameter auf dem gleichen Bildschirm anzeigen, können alle Einstellungen, Überwachung, Sortierparameter, Status usw. auf demselben Bildschirm angezeigt werden, wodurch der mühsame Betrieb des häufigen Wechselns vermieden wird.
Anwendung
• Halbleiterkomponenten/Leistungskomponenten
Parasitische Kapazitätsprüfung und C-V-Karakteristikanalyse von Dioden, Trioden, MOSFETs, IGBTs, Thyristoren, integrierten Schaltungen, optoelektronischen Chips usw.
• Halbleitermaterial
Wafer-Scheiben, C-V-Charakteristikanalyse
• Flüssigkristallmaterial
Analyse der Elastischen Konstante
Bemerkenswerte Merkmale
A. Einfach getestet, 10,1 Zoll großer Bildschirm, vier Parasitenparameter werden auf demselben Bildschirm angezeigt, so dass die Details auf einen Blick zu sehen sind.
10.1-Zoll-Touchscreen, Auflösung 1280*800,Linux-System, chinesische und englische Bedienoberfläche, Unterstützung von Tastatur, Maus, LAN
Schnittstelle, die einen beispiellosen Bedienkomfort bietet.
Die vier wichtigsten Parameter des MOSFET: Ciss, Coss, Crss, Rg zeigen die Messwerte direkt an.
Die Anwendungen werden in der Anlage mit einer Schnittstelle ausgestattet und zeigen gleichzeitig das gleichwertige Schaltkreislaufdiagramm der vier Parameter an, das auf einen Blick deutlich zu erkennen ist.
Bis zu 6 Kanäle von Messparametern können schnell abgerufen werden, und die Sortierungsergebnisse werden direkt auf derselben Schnittstelle angezeigt.
B.Liste-Scan, flexible Kombination
Der Halbleiter-C-V-Charakteristikanalysator der TH510-Serie unterstützt die Prüfung und Analyse von bis zu 6 Kanälen und 4 Messparametern.
Der Liste-Scan-Modus unterstützt jede Kombination verschiedener Kanäle, unterschiedlicher Parameter und unterschiedlicher Messbedingungen und kann
der Grenzbereich und Anzeige der Messergebnisse.

C.Graphische Scanfunktion (optional)
TH510-Serie Halbleiter-C-V-Charakteristik-Analysator unterstützt C-V-Charakteristik-Kurvenanalyse, kann Kurven-Scannen in logarithmischen und linearen Wegen realisieren,und kann mehrere Kurven gleichzeitig anzeigen: mehrere Kurven mit demselben Parameter und unterschiedlichen Vg; mehrere Kurven mit demselben Vg und unterschiedlichen Parametern.

D.Einfache und schnelle Einrichtung
Die Parameter können willkürlich ausgewählt und eingeschaltet und ausgeschaltet werden.
und Datenübertragung; die Verzögerungszeit kann automatisch oder von selbst eingestellt werden; der Torwiderstand kann aus dem Abfluss
Schnittstelle mit Schnittstelle mit Schnittstelle mit Schnittstelle mit Schnittstelle
Mit Hilfe einer grafischen Einstellungsoberfläche entsprechen die Funktionsparameter auf einen Blick den schematischen Einstellungen


E.10 BINS-Sortierung und programmierbare HANDLER-Schnittstelle
Das Gerät bietet 10 Sortierungsstufen, wodurch die Möglichkeit zur Produktqualitätsklassifizierung des Kunden besteht, und die Sortierungsergebnisse werden direkt an die HANDLER-Schnittstelle ausgeführt.
Bei der Verbindung mit Automatisierungsgeräten war die Konfiguration der Ausgabe der HANDLER-Schnittstelle für Automatisierungskunden immer ein schwieriges Problem.Die TH510-Serie visualisiert vollständig die Pinposition der HANDLER-Schnittstelle, Eingangs- und Ausgangsmethoden, entsprechende Signale und Antwortmethoden, die die automatische Verbindung erleichtern.

F.Unterstützung der Anpassung, Intelligente Fifirmware-Upgrade
Tonghui Instrument ist offen für Kunden. Alle Schnittstellen und Anweisungen des Instruments sind offenes Design.
Wenn es keine Hardwareänderung in kundenspezifischen Funktionen gibt, können sie
Sie werden direkt durch ein Fifirmware-Upgrade aktualisiert.
Das Instrument selbst verfügt über perfekte Funktionen, Bug-Lösungen, Funktionsupgrades usw. können durch Upgrading der Fifirmware aktualisiert werden
(Firmware) ohne in die Fabrik zurückzukehren.
Das Upgrade der Fifirmware ist sehr intelligent, was über die Systemeinstellungsoberfläche oder das Fifile Management durchgeführt werden kann.
Schnittstelle, intelligent durchsuchen Sie den Instrumentenspeicher, externes USB-Flash-Laufwerk oder sogar das Upgrade-Paket im lokalen Bereich
Netzwerk, und automatisch aktualisieren.
G. Kenntnisse der parasitären Kapazität von Halbleiterkomponenten
In Hochfrequenzkreisen beeinflusst die parasitäre Kapazität von Halbleitergeräten häufig die dynamischen Eigenschaften von
Halbleiter müssen daher bei der Konstruktion von Halbleiterkomponenten folgende Faktoren berücksichtigt werden.
Bei der Konstruktion von Hochfrequenzkreisen ist häufig der Einfluß der Diodenverbindungskapazität zu berücksichtigen.
Die parasitäre Kapazität des MOS-Rohrs beeinflusst viele Aspekte wie die Betriebszeit, die Fahrfähigkeit und den Schaltverlust von
Die Spannungsabhängigkeit der parasitären Kapazität ist auch im Schaltkreisdesign.



